晶粒度檢測

　　晶粒度檢測晶粒度（grain size）—用于描述晶粒大小的參數(shù)，常用的表示方法：單位體積的晶粒數(shù)目（ZV）；或單位面積內(nèi)的晶粒數(shù)目（ZS）或晶粒的平均線長度（或直徑）表示。晶粒度可用晶粒的平均面積或平均直徑表示。

　　工業(yè)生產(chǎn)上采用晶粒度等級來表示晶粒大小。標準晶粒度共分8級，1-4級為粗晶粒，5-8級為細晶粒。一般晶粒度越大，也就是越細越好。

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